GIS局部放電主要由下列缺陷引發

GIS局部放電主要由下列缺陷引發：
*載流導體表面缺陷：如毛刺，尖角，等引起導體表面電廠強度不均勻，這種缺陷通常在制造或安裝時造成的，在穩定的工頻電壓下不易引起擊穿，但在操作或沖擊電壓下很可能引起擊穿。
*絕緣子表面缺陷：如制造質量**，絕緣子有氣泡或裂紋，安裝**下的污跡，塵埃等。
*GIS筒內在制造和安裝過程中存在的自由導電微粒。
*導體部分接觸**。
AIAcompact主要特點：
1．可連接聲波傳感器
2．可連接特高頻（UHF）傳感器（300MHz-2GHz）
3．儀器自動識別傳感器類型
4．內置可充電電池，攜帶方便，測量快速
5．紅外同步裝置
6． RS232接口，連接電腦可進行深入技術分析
7．高靈敏度：1mv或1pc
8． LCD顯示屏
9．三種顯示模式

上一篇：雙鉗多功能表使用方法參考
下一篇：高壓開關測試儀簡介

關于我們

產品中心

服務與支持

聯系方式

021-56774665

咨詢電話

手機掃碼瀏覽網站！

聯系電話：86-021-56653661 86-021-56774665 86-021-66401707
傳真號碼：021-56774695 移動電話：13801861238,13167237888 公司地址：上海市寶山區少年村路89號2幢

滬ICP備09077764號-3

一级毛片久久久,天天玩天天射天天日,九色自拍porny,免费国产四虎影视

GIS局部放電主要由下列缺陷引發